隨著我國(guó)航天、核工業(yè)等領(lǐng)域快速發(fā)展，對(duì)微小氣體流量的精確測(cè)量提出了迫切需求。不論是月球樣品封裝裝置中用到的真空漏率測(cè)量，還是載人飛船艙門檢漏中用到的正壓漏率測(cè)量，均與高精度微小氣體流量測(cè)量技術(shù)密不可分。針對(duì)以上需求，航天510所通過(guò)十余年的持續(xù)研究，提出了微小氣體流量測(cè)量、真空漏率測(cè)量、正壓漏率測(cè)量等新方法，并取得重大創(chuàng)新與突破。

　　發(fā)明了基于非蒸散型吸氣劑技術(shù)的固定流導(dǎo)法測(cè)量微小氣體流量的方法，將測(cè)量下限延伸至10^-16 Pa·m3/s量級(jí)國(guó)際最好水平。2014年，由國(guó)際真空科學(xué)技術(shù)與應(yīng)用聯(lián)合會(huì)等25家單位聯(lián)合發(fā)表在國(guó)際權(quán)威期刊《物理學(xué)報(bào)》上的一篇綜述性文章“真空科學(xué)與應(yīng)用技術(shù)新進(jìn)展”中，將這項(xiàng)工作作為真空科學(xué)應(yīng)用領(lǐng)域的一項(xiàng)最新成就進(jìn)行了引用報(bào)道。

　　發(fā)明了靜態(tài)累積比較法測(cè)量極小真空漏率的方法，解決了月球樣品封裝裝置極小漏率精確測(cè)量難題，為成功研制滿足漏率小于5×10^-11 Pa·m³/s的月球樣品封裝裝置做出了重要貢獻(xiàn)，這是探月三期采樣返回的核心指標(biāo)。

　　發(fā)明了壓力鋸齒波動(dòng)恒壓法測(cè)量正壓漏率的方法，建立了我國(guó)首臺(tái)恒壓法正壓漏率測(cè)量裝置，下限達(dá)到10^-8 Pa·m³/s量級(jí)，解決了載人飛船艙門快速檢漏儀的精確校準(zhǔn)難題。

　　相關(guān)成果共獲授權(quán)國(guó)家發(fā)明專利37項(xiàng)，其中4項(xiàng)核心專利獲中國(guó)專利優(yōu)秀獎(jiǎng)。在國(guó)內(nèi)外權(quán)威學(xué)術(shù)刊物發(fā)表論文116篇，出版《真空計(jì)量新技術(shù)》專著一部。相關(guān)成果獲省部級(jí)一等獎(jiǎng)3項(xiàng)、二等獎(jiǎng)2項(xiàng)。

團(tuán)隊(duì)負(fù)責(zé)人李得天研究員在人民大會(huì)堂召開(kāi)的國(guó)家科學(xué)技術(shù)獎(jiǎng)勵(lì)大會(huì)現(xiàn)場(chǎng)